Электронный каталог

Статья

Neale, A.
A Chip-Level Single-Event Latchup (SEL) Estimation Methodology / A.Neale, N.Seifert // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2020. – Vol.67, No.1, Pt.1. – p.15-21. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2019.2953268. – Bibliogr.:19.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$