Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Кулыгин, А.К. - Новые подходы к прецизионным измерениям дифракционных картин в электронографии
Кулыгин, А.К. - Новые подходы к прецизионным измерениям дифракционных картин в электронографии
Статья
Автор: Кулыгин, А.К.
Кристаллография: Новые подходы к прецизионным измерениям дифракционных картин в электронографии
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Кулыгин, А.К.
Кристаллография: Новые подходы к прецизионным измерениям дифракционных картин в электронографии
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Кулыгин, А.К.
Новые подходы к прецизионным измерениям дифракционных картин в электронографии / А.К.Кулыгин, [и др.] // Кристаллография. – 2020. – Т.65, №2. – с.325-334. – URL: http://dx.doi.org/10.1134/S1063774520020145. – Библиогр.:23.
Спец.(статьи,препринты) = С 332.8 - Синхротронное излучение. Лазеры на свободных электронах. Получение и использование рентгеновских лучей
Кулыгин, А.К.
Новые подходы к прецизионным измерениям дифракционных картин в электронографии / А.К.Кулыгин, [и др.] // Кристаллография. – 2020. – Т.65, №2. – с.325-334. – URL: http://dx.doi.org/10.1134/S1063774520020145. – Библиогр.:23.
Спец.(статьи,препринты) = С 332.8 - Синхротронное излучение. Лазеры на свободных электронах. Получение и использование рентгеновских лучей
