Электронный каталог

Статья

Попов, И.И.
Оценка уширения трионных спектральных линий тонкой пленки Si(P)/Si(B)/ZnO в зависимости от экситон-фононного взаимодействия и других факторов / И.И.Попов, [и др.] // Известия Российской Академии наук. Серия физическая. – 2020. – Т.84, №3. – с.401-406. – URL: http://dx.doi.org/10.3103/S1062873820030181. – Библиогр.:15.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.4б - Методы приготовления тонких пленок$