Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: IEEE Transactions on Nuclear Science
IEEE Transactions on Nuclear Science
Доступно
1 из 1
1 из 1
Периодическое издание
IEEE Transactions on Nuclear Science. – New York : The Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1956-1998; 2000-2022. – URL: http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?puNumber=23. – Since 2023 - see Electronic Journal. – ISSN 0018-9499.
Выпуск
IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2020. – Vol.67, No.1, Pt.1. – P.1-360.
Бюллетени = 32/20
IEEE Transactions on Nuclear Science. – New York : The Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1956-1998; 2000-2022. – URL: http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?puNumber=23. – Since 2023 - see Electronic Journal. – ISSN 0018-9499.
Выпуск
IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2020. – Vol.67, No.1, Pt.1. – P.1-360.
Бюллетени = 32/20
Филиал | Фонд | Всего | Доступно для брони | Доступно для выдачи | Бронирование |
---|---|---|---|---|---|
ЦБ.ЧЗ | Журналы зарубеж. | 1 | 1 | 1 | Заказать |
Привязано к:
Периодическое издание
IEEE Transactions on Nuclear Science
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1956-1998; 2000-2022 г.
ISBN отсутствует
IEEE Transactions on Nuclear Science
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1956-1998; 2000-2022 г.
ISBN отсутствует
Связанные описания:
Статья
Austin, R. A.
Inclusion of Radiation Environment Variability for Reliability Estimates for SiC Power MOSFETs
б.г.
ISBN отсутствует
Austin, R. A.
Inclusion of Radiation Environment Variability for Reliability Estimates for SiC Power MOSFETs
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Alia, R. G.
Direct Ionization Impact on Accelerator Mixed-Field Soft-Error Rate
б.г.
ISBN отсутствует
Alia, R. G.
Direct Ionization Impact on Accelerator Mixed-Field Soft-Error Rate
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Hansen, D. L.
Design-of-Experiments and Monte-Carlo Methods in Upset Rate-Calculations
б.г.
ISBN отсутствует
Hansen, D. L.
Design-of-Experiments and Monte-Carlo Methods in Upset Rate-Calculations
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
James, B.
Applying Compiler-Automated Software Fault Tolerance to Multiple Processor Platforms
б.г.
ISBN отсутствует
James, B.
Applying Compiler-Automated Software Fault Tolerance to Multiple Processor Platforms
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Cannon, M. J.
Improving the Reliability of TMR with Nontriplicated I/O on SRAM FPGAs
б.г.
ISBN отсутствует
Cannon, M. J.
Improving the Reliability of TMR with Nontriplicated I/O on SRAM FPGAs
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Morana, A.
Performances of Radiation-Hardened Single-Ended Raman Distributed Temperature Sensors Using Comme...
б.г.
ISBN отсутствует
Morana, A.
Performances of Radiation-Hardened Single-Ended Raman Distributed Temperature Sensors Using Comme...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Goley, P. S.
Response of Waveguide-Integrated Germanium-on-Silicon p-i-n Photodiodes to Neutron Displacement D...
б.г.
ISBN отсутствует
Goley, P. S.
Response of Waveguide-Integrated Germanium-on-Silicon p-i-n Photodiodes to Neutron Displacement D...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Girard, S.
Transient and Steady-State Radiation Response of Phosphosilicate Optical Fibers: Influence of H&s...
б.г.
ISBN отсутствует
Girard, S.
Transient and Steady-State Radiation Response of Phosphosilicate Optical Fibers: Influence of H&s...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Morana, A.
Radiation Response of Distributed Feedback Bragg Gratings for Space Applications
б.г.
ISBN отсутствует
Morana, A.
Radiation Response of Distributed Feedback Bragg Gratings for Space Applications
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Aubry, M.
Radiation Effects on WDM and DWDM Architectures of Preamplifier and Boost-Amplifier
б.г.
ISBN отсутствует
Aubry, M.
Radiation Effects on WDM and DWDM Architectures of Preamplifier and Boost-Amplifier
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Le Roch, A.
Comparison of X-Ray and Electron Radiation Effects on Dark Current Non-Uniformity and Fluctuation...
б.г.
ISBN отсутствует
Le Roch, A.
Comparison of X-Ray and Electron Radiation Effects on Dark Current Non-Uniformity and Fluctuation...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Cazzaniga, C.
Study of the Deposited Energy Spectra in Silicon by High-Energy Neutron and Mixed Fields
б.г.
ISBN отсутствует
Cazzaniga, C.
Study of the Deposited Energy Spectra in Silicon by High-Energy Neutron and Mixed Fields
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Peracchi, S.
A Solid-State Microdosimeter for Dose and Radiation Quality Monitoring for Astronauts in Space
б.г.
ISBN отсутствует
Peracchi, S.
A Solid-State Microdosimeter for Dose and Radiation Quality Monitoring for Astronauts in Space
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
James, B.
SOI Thin Microdosimeters for High LET Single-Event Upset Studies in Fe, O, Xe, and Cocktail Ion B...
б.г.
ISBN отсутствует
James, B.
SOI Thin Microdosimeters for High LET Single-Event Upset Studies in Fe, O, Xe, and Cocktail Ion B...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Di Francesca, D.
Implementation of Optical-Fiber Postmortem Dose Measurements: A Proof of Concept
б.г.
ISBN отсутствует
Di Francesca, D.
Implementation of Optical-Fiber Postmortem Dose Measurements: A Proof of Concept
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Pena-Fernandez, M.
The Use of Microprocessor Trace Infrastructures for Radiation-Induced Fault Diagnosis
б.г.
ISBN отсутствует
Pena-Fernandez, M.
The Use of Microprocessor Trace Infrastructures for Radiation-Induced Fault Diagnosis
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Pande, N.
Understanding the Key Parameter Dependences Influencing the Soft-Error Susceptibility of Standard...
б.г.
ISBN отсутствует
Pande, N.
Understanding the Key Parameter Dependences Influencing the Soft-Error Susceptibility of Standard...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Loveless, T. D.
Ionizing Radiation Effects Spectroscopy for Analysis of Single-Event Transients
б.г.
ISBN отсутствует
Loveless, T. D.
Ionizing Radiation Effects Spectroscopy for Analysis of Single-Event Transients
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Nergui, D.
Single-Event Transients in SiGe HBTs Induced by Pulsed X-Ray Microbeam
б.г.
ISBN отсутствует
Nergui, D.
Single-Event Transients in SiGe HBTs Induced by Pulsed X-Ray Microbeam
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Hales, J. M.
New Approach for Pulsed-Laser Testing That Mimics Heavy-Ion Charge Deposition Profiles
б.г.
ISBN отсутствует
Hales, J. M.
New Approach for Pulsed-Laser Testing That Mimics Heavy-Ion Charge Deposition Profiles
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ildefonso, A.
Comparison of Single-Event Transients in SiGe HBTs on Bulk and Thick-Film SOI
б.г.
ISBN отсутствует
Ildefonso, A.
Comparison of Single-Event Transients in SiGe HBTs on Bulk and Thick-Film SOI
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Kastriotou, M.
Single Event Effect Testing with Ultrahigh Energy Heavy Ion Beams
б.г.
ISBN отсутствует
Kastriotou, M.
Single Event Effect Testing with Ultrahigh Energy Heavy Ion Beams
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ryder, K. L.
Comparison of Sensitive Volumes Associated with Ion- and Laser-Induced Charge Collection in an Ep...
б.г.
ISBN отсутствует
Ryder, K. L.
Comparison of Sensitive Volumes Associated with Ion- and Laser-Induced Charge Collection in an Ep...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Perez-Celis, A.
Statistical Method to Extract Radiation-Induced Multiple-Cell Upsets in SRAM-Based FPGAs
б.г.
ISBN отсутствует
Perez-Celis, A.
Statistical Method to Extract Radiation-Induced Multiple-Cell Upsets in SRAM-Based FPGAs
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Caron, P.
New SEU Modeling Method for Calibrating Target System to Multiple Radiation Particles
б.г.
ISBN отсутствует
Caron, P.
New SEU Modeling Method for Calibrating Target System to Multiple Radiation Particles
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ryder, L. D.
Polarization Dependence of Pulsed Laser-Induced SEEs in SOI FinFETs
б.г.
ISBN отсутствует
Ryder, L. D.
Polarization Dependence of Pulsed Laser-Induced SEEs in SOI FinFETs
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Auden, E. C.
Thermal Neutron-Induced Single-Event Upsets in Microcontrollers Containing Boron-10
б.г.
ISBN отсутствует
Auden, E. C.
Thermal Neutron-Induced Single-Event Upsets in Microcontrollers Containing Boron-10
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ball, D. R.
Ion-Induced Energy Pulse Mechanism for Single-Event Burnout in High-Voltage SiC Power MOSFETs and...
б.г.
ISBN отсутствует
Ball, D. R.
Ion-Induced Energy Pulse Mechanism for Single-Event Burnout in High-Voltage SiC Power MOSFETs and...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC), San Antonio, TX, USA, July 8-12, 2019
б.г.
ISBN отсутствует
Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC), San Antonio, TX, USA, July 8-12, 2019
б.г.
ISBN отсутствует