Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Ankudinov, A. V. - On the Accuracy of the Probe–Sample Contact Stiffness Measured by an Atomic Force Microscope
Ankudinov, A. V. - On the Accuracy of the Probe–Sample Contact Stiffness Measured by an Atomic Force Microscope
Статья
Автор: Ankudinov, A. V.
Наносистемы: физика, химия, математика: On the Accuracy of the Probe–Sample Contact Stiffness Measured by an Atomic Force Microscope
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Ankudinov, A. V.
Наносистемы: физика, химия, математика: On the Accuracy of the Probe–Sample Contact Stiffness Measured by an Atomic Force Microscope
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Ankudinov, A.V.
On the Accuracy of the Probe–Sample Contact Stiffness Measured by an Atomic Force Microscope / A.V.Ankudinov // Наносистемы: физика, химия, математика. – 2019. – Т.10, №6. – p.642-653. – URL: http://dx.doi.org/10.17586/2220-8054-2019-10-6-642-653. – Bibliogr.:25.
Спец.(статьи,препринты) = С 33 а - Нанофизика. Нанотехнология$
Спец.(статьи,препринты) = С 37 - Оптика$
Ankudinov, A.V.
On the Accuracy of the Probe–Sample Contact Stiffness Measured by an Atomic Force Microscope / A.V.Ankudinov // Наносистемы: физика, химия, математика. – 2019. – Т.10, №6. – p.642-653. – URL: http://dx.doi.org/10.17586/2220-8054-2019-10-6-642-653. – Bibliogr.:25.
Спец.(статьи,препринты) = С 33 а - Нанофизика. Нанотехнология$
Спец.(статьи,препринты) = С 37 - Оптика$
Привязано к:
Доступно
1 из 1