Электронный каталог

Статья

Zheng, Z.
Comparison of the Total Dose Responses of Fully Depleted SOI nMOSFETs with Different Geometries for the Worst Case Bias Conditions / Z.Zheng, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2019. – Vol.66, No.10. – p.2207-2214. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2019.2936607. – Bibliogr.:37.



Спец.(статьи,препринты) = С 349 а - Дозиметрия различных видов излучения. Абсолютные измерения потоков