Электронный каталог

Статья

Kuboyama, S.
Thermal Runaway in SiC Schottky Barrier Diodes Caused by Heavy Ions / S.Kuboyama, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2019. – Vol.66, No.7, Pt.2. – p.1688-1693. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2019.2914494. – Bibliogr.:15.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$