Электронный каталог

Статья

Belloir, J.-M.
Radiation Effects in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors: Variation of Photodiode Implant Dose / J.-M.Belloir, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2019. – Vol.66, No.7, Pt.2. – p.1671-1681. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2019.2922659. – Bibliogr.:18.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$