Электронный каталог

Статья

Rostand, N.
Total Ionizing Dose Effects in FDSOI Compact Model for IC Design / N.Rostand, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2019. – Vol.66, No.7, Pt.2. – p.1628-1633. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2019.2911429. – Bibliogr.:16.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$