Электронный каталог

Статья

Borel, T.
Total Ionizing Dose Effect in LDMOS Oxides and Devices / T.Borel, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2019. – Vol.66, No.7, Pt.2. – p.1606-1611. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2019.2914091. – Bibliogr.:16.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$