Электронный каталог

Статья

Harrington, R.C.
Empirical Modeling of FinFET SEU Cross Sections Across Supply Voltage / R.C.Harrington, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2019. – Vol.66, No.7, Pt.2. – p.1427-1432. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2019.2920621. – Bibliogr.:13.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$