Электронный каталог

Статья

Manabe, S.
Estimation of Muon-Induced SEU Rates for 65-nm Bulk and UTBB-SOI SRAMs / S.Manabe, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2019. – Vol.66, No.7, Pt.2. – p.1398-1403. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2019.2916191. – Bibliogr.:17.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$