Электронный каталог

Статья

Liao, W.
Similarity Analysis on Neutron- and Negative Muon-Induced MCUs in 65-nm Bulk SRAM / W.Liao, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2019. – Vol.66, No.7, Pt.2. – p.1390-1397. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2019.2921365. – Bibliogr.:21.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$