Электронный каталог

Статья

Kato, T.
Neutron-Induced Multiple-Cell Upsets in 20-nm Bulk SRAM: Angular Sensitivity and Impact of Multiwell Potential Perturbation / T.Kato, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2019. – Vol.66, No.7, Pt.2. – p.1381-1389. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2019.2900629. – Bibliogr.:22.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$