Электронный каталог

Статья

Abe, S.
Impact of Irradiation Side on Neutron-Induced Single-Event Upsets in 65-nm Bulk SRAMs / S.Abe, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2019. – Vol.66, No.7, Pt.2. – p.1374-1380. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2019.2902176. – Bibliogr.:25.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$