Электронный каталог

Статья

Zhang, Z.
Tibetan-Plateau-Based Real-Time Testing and Simulations of Single-Bit and Multiple-Cell Upsets in QDRII+ SRAM Devices / Z.Zhang, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2019. – Vol.66, No.7, Pt.2. – p.1368-1373. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2019.2913190. – Bibliogr.:21.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$