Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: IEEE Transactions on Nuclear Science
IEEE Transactions on Nuclear Science
Доступно
1 из 1
1 из 1
Периодическое издание
IEEE Transactions on Nuclear Science. – New York : The Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1956-1998; 2000-2022. – URL: http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?puNumber=23. – Since 2023 - see Electronic Journal. – ISSN 0018-9499.
Выпуск
IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2019. – Vol.66, No.7, Pt.2. – P.1349-1780.
Бюллетени = 48/19
IEEE Transactions on Nuclear Science. – New York : The Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1956-1998; 2000-2022. – URL: http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?puNumber=23. – Since 2023 - see Electronic Journal. – ISSN 0018-9499.
Выпуск
IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2019. – Vol.66, No.7, Pt.2. – P.1349-1780.
Бюллетени = 48/19
Филиал | Фонд | Всего | Доступно для брони | Доступно для выдачи | Бронирование |
---|---|---|---|---|---|
ЦБ.ЧЗ | Журналы зарубеж. | 1 | 1 | 1 | Заказать |
Привязано к:
Периодическое издание
IEEE Transactions on Nuclear Science
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1956-1998; 2000-2022 г.
ISBN отсутствует
IEEE Transactions on Nuclear Science
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1956-1998; 2000-2022 г.
ISBN отсутствует
Связанные описания:
Статья
Pinto, M.
Development of a Directionality Detector for RADEM, the Radiation Hard Electron Monitor Aboard th...
б.г.
ISBN отсутствует
Pinto, M.
Development of a Directionality Detector for RADEM, the Radiation Hard Electron Monitor Aboard th...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Sandberg, I.
Data Exploitation of New Galileo Environmental Monitoring Units
б.г.
ISBN отсутствует
Sandberg, I.
Data Exploitation of New Galileo Environmental Monitoring Units
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ruffenach, M.
Proton Radiation Belt Anisotropy as Seen by ICARE-NG Head-A
б.г.
ISBN отсутствует
Ruffenach, M.
Proton Radiation Belt Anisotropy as Seen by ICARE-NG Head-A
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Sicard, A.
New Model for the Plasma Electrons Fluxes (Part of GREEN Model)
б.г.
ISBN отсутствует
Sicard, A.
New Model for the Plasma Electrons Fluxes (Part of GREEN Model)
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Petzold, S.
Heavy Ion Radiation Effects on Hafnium Oxide-Based Resistive Random Access Memory
б.г.
ISBN отсутствует
Petzold, S.
Heavy Ion Radiation Effects on Hafnium Oxide-Based Resistive Random Access Memory
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Kuboyama, S.
Physical Analysis of Damage Sites Introduced by SEGR in Silicon Vertical Power MOSFETs and Implic...
б.г.
ISBN отсутствует
Kuboyama, S.
Physical Analysis of Damage Sites Introduced by SEGR in Silicon Vertical Power MOSFETs and Implic...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Martinella, C.
Current Transport Mechanism for Heavy-Ion Degraded SiC MOSFETs
б.г.
ISBN отсутствует
Martinella, C.
Current Transport Mechanism for Heavy-Ion Degraded SiC MOSFETs
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Kuboyama, S.
Thermal Runaway in SiC Schottky Barrier Diodes Caused by Heavy Ions
б.г.
ISBN отсутствует
Kuboyama, S.
Thermal Runaway in SiC Schottky Barrier Diodes Caused by Heavy Ions
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Belloir, J.-M.
Radiation Effects in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors: Variation of Photodiode Implant Dose
б.г.
ISBN отсутствует
Belloir, J.-M.
Radiation Effects in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors: Variation of Photodiode Implant Dose
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Melin, G.
Radiation Resistant Single-Mode Fiber with Different Coatings for Sensing in High Dose Environments
б.г.
ISBN отсутствует
Melin, G.
Radiation Resistant Single-Mode Fiber with Different Coatings for Sensing in High Dose Environments
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Sabatier, C.
Distributed Optical Fiber Sensor Allowing Temperature and Strain Discrimination in Radiation Envi...
б.г.
ISBN отсутствует
Sabatier, C.
Distributed Optical Fiber Sensor Allowing Temperature and Strain Discrimination in Radiation Envi...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Abdelwahab, M. S.
Worst Case Test Vectors for Sequential Circuits in Flash-Based FPGAs Exposed to Total Dose
б.г.
ISBN отсутствует
Abdelwahab, M. S.
Worst Case Test Vectors for Sequential Circuits in Flash-Based FPGAs Exposed to Total Dose
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Witulski, A. F.
Simulation of Transistor-Level Radiation Effects on System-Level Performance Parameters
б.г.
ISBN отсутствует
Witulski, A. F.
Simulation of Transistor-Level Radiation Effects on System-Level Performance Parameters
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Rostand, N.
Total Ionizing Dose Effects in FDSOI Compact Model for IC Design
б.г.
ISBN отсутствует
Rostand, N.
Total Ionizing Dose Effects in FDSOI Compact Model for IC Design
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Brucoli, M.
Investigation on Passive and Autonomous Mode Operation of Floating Gate Dosimeters
б.г.
ISBN отсутствует
Brucoli, M.
Investigation on Passive and Autonomous Mode Operation of Floating Gate Dosimeters
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Li, X.
Correlation between High Dose Rate Irradiation and Low Dose Rate Irradiation for Switched Dose Ra...
б.г.
ISBN отсутствует
Li, X.
Correlation between High Dose Rate Irradiation and Low Dose Rate Irradiation for Switched Dose Ra...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Zhao, S. E.
Gate Bias and Length Dependences of Total Ionizing Dose Effects in InGaAs FinFETs on Bulk Si
б.г.
ISBN отсутствует
Zhao, S. E.
Gate Bias and Length Dependences of Total Ionizing Dose Effects in InGaAs FinFETs on Bulk Si
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ren, Z.
Interface Passivation Strategy for Ge pMOSFET from a TID Perspective
б.г.
ISBN отсутствует
Ren, Z.
Interface Passivation Strategy for Ge pMOSFET from a TID Perspective
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Wang, P.
Total-Ionizing-Dose Response of MoS&sub(2) Transistors with ZrO&sub(2) and h-BN Gate Dielectrics
б.г.
ISBN отсутствует
Wang, P.
Total-Ionizing-Dose Response of MoS&sub(2) Transistors with ZrO&sub(2) and h-BN Gate Dielectrics
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Bonaldo, S.
Charge Buildup and Spatial Distribution of Interface Traps in 65-nm pMOSFETs Irradiated to Ultrah...
б.г.
ISBN отсутствует
Bonaldo, S.
Charge Buildup and Spatial Distribution of Interface Traps in 65-nm pMOSFETs Irradiated to Ultrah...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Li, R.
Synergistic Effects of TID and ATREE in Vertical NPN Bipolar Transistor
б.г.
ISBN отсутствует
Li, R.
Synergistic Effects of TID and ATREE in Vertical NPN Bipolar Transistor
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Yao, S.
Using a Temperature-Switching Approach to Evaluate Low-Dose-Rate Ionizing Radiation Effects on SE...
б.г.
ISBN отсутствует
Yao, S.
Using a Temperature-Switching Approach to Evaluate Low-Dose-Rate Ionizing Radiation Effects on SE...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ferraro, R.
Study of the Impact of the LHC Radiation Environments on the Synergistic Displacement Damage and ...
б.г.
ISBN отсутствует
Ferraro, R.
Study of the Impact of the LHC Radiation Environments on the Synergistic Displacement Damage and ...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Kerboub, N.
Comparison between In-Flight SEL Measurement and Ground Estimation Using Different Facilities
б.г.
ISBN отсутствует
Kerboub, N.
Comparison between In-Flight SEL Measurement and Ground Estimation Using Different Facilities
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Cecchetto, M.
SEE Flux and Spectral Hardness Calibration of Neutron Spallation and Mixed-Field Facilities
б.г.
ISBN отсутствует
Cecchetto, M.
SEE Flux and Spectral Hardness Calibration of Neutron Spallation and Mixed-Field Facilities
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Fernandez-Martinez, P.
SEE Tests with Ultra Energetic Xe Ion Beam in the CHARM Facility at CERN
б.г.
ISBN отсутствует
Fernandez-Martinez, P.
SEE Tests with Ultra Energetic Xe Ion Beam in the CHARM Facility at CERN
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Mauguet, M.
Single-Event Latchup in a CMOS-Based ASIC Using Heavy Ions, Laser Pulses, and Coupled Simulation
б.г.
ISBN отсутствует
Mauguet, M.
Single-Event Latchup in a CMOS-Based ASIC Using Heavy Ions, Laser Pulses, and Coupled Simulation
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Youssef, A. A.
Compact Modeling of Single-Event Latchup of Integrated CMOS Circuit
б.г.
ISBN отсутствует
Youssef, A. A.
Compact Modeling of Single-Event Latchup of Integrated CMOS Circuit
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Zhao, W.
Single-Event Double Transients in Inverter Chains Designed with Different Transistor Widths
б.г.
ISBN отсутствует
Zhao, W.
Single-Event Double Transients in Inverter Chains Designed with Different Transistor Widths
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Hengzhou, Y.
An SEU/SET-Tolerant Phase Frequency Detector with Double-Loop Self-Sampling Technology for Clock ...
б.г.
ISBN отсутствует
Hengzhou, Y.
An SEU/SET-Tolerant Phase Frequency Detector with Double-Loop Self-Sampling Technology for Clock ...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Fontana, A.
Pulse Quenching and Charge-Sharing Effects on Heavy-Ion Microbeam Induced ASET in a Full-Custom C...
б.г.
ISBN отсутствует
Fontana, A.
Pulse Quenching and Charge-Sharing Effects on Heavy-Ion Microbeam Induced ASET in a Full-Custom C...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Aguiar, Y. Q.
Impact of Complex Logic Cell Layout on the Single-Event Transient Sensitivity
б.г.
ISBN отсутствует
Aguiar, Y. Q.
Impact of Complex Logic Cell Layout on the Single-Event Transient Sensitivity
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Pena-Fernandez, M.
Online Error Detection Through Trace Infrastructure in ARM Microprocessors
б.г.
ISBN отсутствует
Pena-Fernandez, M.
Online Error Detection Through Trace Infrastructure in ARM Microprocessors
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Goncalves, M.
Selective Fault Tolerance for Register Files of Graphics Processing Units
б.г.
ISBN отсутствует
Goncalves, M.
Selective Fault Tolerance for Register Files of Graphics Processing Units
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Trindade, M. G.
Assessment of a Hardware-Implemented Machine Learning Technique Under Neutron Irradiation
б.г.
ISBN отсутствует
Trindade, M. G.
Assessment of a Hardware-Implemented Machine Learning Technique Under Neutron Irradiation
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Harrington, R. C.
Empirical Modeling of FinFET SEU Cross Sections Across Supply Voltage
б.г.
ISBN отсутствует
Harrington, R. C.
Empirical Modeling of FinFET SEU Cross Sections Across Supply Voltage
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Yamada, K.
Radiation-Hardened Structure to Reduce Sensitive Range of a Stacked Structure for FDSOI
б.г.
ISBN отсутствует
Yamada, K.
Radiation-Hardened Structure to Reduce Sensitive Range of a Stacked Structure for FDSOI
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Gaillardin, M.
Analysis of Nanowire Field-Effect Transistors SET Response: Geometrical Considerations
б.г.
ISBN отсутствует
Gaillardin, M.
Analysis of Nanowire Field-Effect Transistors SET Response: Geometrical Considerations
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Caron, P.
Physical Mechanisms of Proton-Induced Single-Event Upset in Integrated Memory Devices
б.г.
ISBN отсутствует
Caron, P.
Physical Mechanisms of Proton-Induced Single-Event Upset in Integrated Memory Devices
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Manabe, S.
Estimation of Muon-Induced SEU Rates for 65-nm Bulk and UTBB-SOI SRAMs
б.г.
ISBN отсутствует
Manabe, S.
Estimation of Muon-Induced SEU Rates for 65-nm Bulk and UTBB-SOI SRAMs
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Liao, W.
Similarity Analysis on Neutron- and Negative Muon-Induced MCUs in 65-nm Bulk SRAM
б.г.
ISBN отсутствует
Liao, W.
Similarity Analysis on Neutron- and Negative Muon-Induced MCUs in 65-nm Bulk SRAM
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Kato, T.
Neutron-Induced Multiple-Cell Upsets in 20-nm Bulk SRAM: Angular Sensitivity and Impact of Multiw...
б.г.
ISBN отсутствует
Kato, T.
Neutron-Induced Multiple-Cell Upsets in 20-nm Bulk SRAM: Angular Sensitivity and Impact of Multiw...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Abe, S.
Impact of Irradiation Side on Neutron-Induced Single-Event Upsets in 65-nm Bulk SRAMs
б.г.
ISBN отсутствует
Abe, S.
Impact of Irradiation Side on Neutron-Induced Single-Event Upsets in 65-nm Bulk SRAMs
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Zhang, Z.
Tibetan-Plateau-Based Real-Time Testing and Simulations of Single-Bit and Multiple-Cell Upsets in...
б.г.
ISBN отсутствует
Zhang, Z.
Tibetan-Plateau-Based Real-Time Testing and Simulations of Single-Bit and Multiple-Cell Upsets in...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Takeuchi, K.
Single-Event Effects Induced on Atom Switch-Based Field-Programmable Gate Array
б.г.
ISBN отсутствует
Takeuchi, K.
Single-Event Effects Induced on Atom Switch-Based Field-Programmable Gate Array
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Selected Papers from the 2018 Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (...
б.г.
ISBN отсутствует
Selected Papers from the 2018 Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (...
б.г.
ISBN отсутствует