Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Zheng, Q. - Total Ionizing Dose Influence on the Single-Event Multiple-Cell Upsets in 65-nm 6-T SRAM
Zheng, Q. - Total Ionizing Dose Influence on the Single-Event Multiple-Cell Upsets in 65-nm 6-T SRAM
Статья
Автор: Zheng, Q.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Total Ionizing Dose Influence on the Single-Event Multiple-Cell Upsets in 65-nm 6-T SRAM
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Zheng, Q.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Total Ionizing Dose Influence on the Single-Event Multiple-Cell Upsets in 65-nm 6-T SRAM
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Zheng, Q.
Total Ionizing Dose Influence on the Single-Event Multiple-Cell Upsets in 65-nm 6-T SRAM / Q.Zheng, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2019. – Vol.66, No.6. – p.892-898. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2018.2875451. – Bibliogr.:27.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Zheng, Q.
Total Ionizing Dose Influence on the Single-Event Multiple-Cell Upsets in 65-nm 6-T SRAM / Q.Zheng, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2019. – Vol.66, No.6. – p.892-898. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2018.2875451. – Bibliogr.:27.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Привязано к:
Доступно
1 из 1