Электронный каталог

Статья

Николаенко, Ю.М.
Оценка толщины тонких пленок на основе данных элементного состава пленочных структур / Ю.М.Николаенко, [и др.] // Журнал технической физики. Письма. – 2019. – Т.45, №13/14. – с.44-47 (№13). – URL: https://journals.ioffe.ru/articles/viewPDF/47958. – Библиогр.:17.



Спец.(статьи,препринты) = С 325.8 - Квантовые объекты низкой размерности (за исключением эффектов Холла)$