Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Лютцау, А.В. - Оценка кристаллической структуры буферных слоев гетероструктур AlGaN/GaN методом симметричных и а...
Лютцау, А.В. - Оценка кристаллической структуры буферных слоев гетероструктур AlGaN/GaN методом симметричных и а...
Статья
Автор: Лютцау, А.В.
Поверхность: Оценка кристаллической структуры буферных слоев гетероструктур AlGaN/GaN методом симметричных и а...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Лютцау, А.В.
Поверхность: Оценка кристаллической структуры буферных слоев гетероструктур AlGaN/GaN методом симметричных и а...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Лютцау, А.В.
Оценка кристаллической структуры буферных слоев гетероструктур AlGaN/GaN методом симметричных и асимметричных рентгеновских схем / А.В.Лютцау, [и др.] // Поверхность. – 2019. – №7. – с.17-26. – URL: https://doi.org/10.1134/S1027451019040104. – Библиогр.:12.
Спец.(статьи,препринты) = С 33 а - Нанофизика. Нанотехнология$
Лютцау, А.В.
Оценка кристаллической структуры буферных слоев гетероструктур AlGaN/GaN методом симметричных и асимметричных рентгеновских схем / А.В.Лютцау, [и др.] // Поверхность. – 2019. – №7. – с.17-26. – URL: https://doi.org/10.1134/S1027451019040104. – Библиогр.:12.
Спец.(статьи,препринты) = С 33 а - Нанофизика. Нанотехнология$
