Электронный каталог

Статья

Huang, W.
Fidelity Benchmarks for Two-Qubit Gates in Silicon / W.Huang, [et al.] // Nature. – 2019. – Vol.569, No.7757. – p.532-536. – URL: http://dx.doi.org/10.1038/s41586-019-1197-0. – Bibliogr.:33.



Спец.(статьи,препринты) = С 393 и - Высокотемпературная сверхпроводимость. Новые ВТСП$