Электронный каталог

Статья

Tali, M.
Mechanisms of Electron-Induced Single-Event Latchup / M.Tali, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2019. – Vol.66, No.1, Pt.1. – p.437-443. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2018.2884537. – Bibliogr.:16.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$