Электронный каталог

Статья

Bagatin, M.
Total Ionizing Dose Effects in 3-D NAND Flash Memories / M.Bagatin, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2019. – Vol.66, No.1, Pt.1. – p.48-53. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2018.2878911. – Bibliogr.:21.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$