Электронный каталог

Статья

Xia, J.
Measurement of Electron Mobility-Lifetime Product in 3-D Position-Sensitive CdZnTe Detectors Using the VAD_UMv2.2 Digital Readout System / J.Xia, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2018. – Vol.65, No.11. – p.2834-2837. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2018.2876021. – Bibliogr.:10.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.1м - Полупроводниковые детекторы