Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Bessia, F. A. - Displacement Damage in CMOS Image Sensors After Thermal Neutron Irradiation
Bessia, F. A. - Displacement Damage in CMOS Image Sensors After Thermal Neutron Irradiation
Статья
Автор: Bessia, F. A.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Displacement Damage in CMOS Image Sensors After Thermal Neutron Irradiation
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Bessia, F. A.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Displacement Damage in CMOS Image Sensors After Thermal Neutron Irradiation
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Bessia, F.A.
Displacement Damage in CMOS Image Sensors After Thermal Neutron Irradiation / F.A.Bessia, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2018. – Vol.65, No.11. – p.2793-2801. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2018.2874191. – Bibliogr.:40.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Bessia, F.A.
Displacement Damage in CMOS Image Sensors After Thermal Neutron Irradiation / F.A.Bessia, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2018. – Vol.65, No.11. – p.2793-2801. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2018.2874191. – Bibliogr.:40.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Привязано к:
Доступно
1 из 1