Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Астафьев, С.Б. - Специфика вейвлет-анализа в рентгеновской рефлектометрии тонких пленок
Астафьев, С.Б. - Специфика вейвлет-анализа в рентгеновской рефлектометрии тонких пленок
Статья
Автор: Астафьев, С.Б.
Кристаллография: Специфика вейвлет-анализа в рентгеновской рефлектометрии тонких пленок
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Астафьев, С.Б.
Кристаллография: Специфика вейвлет-анализа в рентгеновской рефлектометрии тонких пленок
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Астафьев, С.Б.
Специфика вейвлет-анализа в рентгеновской рефлектометрии тонких пленок / С.Б.Астафьев, Л.Г.Янусова // Кристаллография. – 2018. – Т.63, №5. – с.773-777. – URL: http://dx.doi.org/10.1134/S1063774518050036. – Библиогр.:5.
Спец.(статьи,препринты) = С 344.4б - Методы приготовления тонких пленок$
Спец.(статьи,препринты) = С 332.8 - Синхротронное излучение. Лазеры на свободных электронах. Получение и использование рентгеновских лучей
Астафьев, С.Б.
Специфика вейвлет-анализа в рентгеновской рефлектометрии тонких пленок / С.Б.Астафьев, Л.Г.Янусова // Кристаллография. – 2018. – Т.63, №5. – с.773-777. – URL: http://dx.doi.org/10.1134/S1063774518050036. – Библиогр.:5.
Спец.(статьи,препринты) = С 344.4б - Методы приготовления тонких пленок$
Спец.(статьи,препринты) = С 332.8 - Синхротронное излучение. Лазеры на свободных электронах. Получение и использование рентгеновских лучей
