Электронный каталог

Статья

Kim, B.
Development of a Microchannel Plate Based Beam Profile Monitor for a re-Accelerated Muon Beam / B.Kim, [et al.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research A. – 2018. – Vol.899. – p.22-27. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2018.05.014. – Bibliogr.:16.



Спец.(статьи,препринты) = С 345 о1 - Измерение параметров пучка заряженных частиц
Спец.(статьи,препринты) = С 346.3 - Мю-мезоны