Электронный каталог

Статья

Kim, K.
Two-Step Annealing to Remove Te Secondary-Phase Defects in CdZnTe While Preserving the High Electrical Resistivity / K.Kim, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2018. – Vol.65, No.8, Pt.3. – p.2333-2337. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2018.2856805. – Bibliogr.:10.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.1с - Детекторы гамма-квантов