Электронный каталог

Статья

Mizuta, E.
Single-Event Damage Observed in GaN-on-Si HEMTs for Power Control Applications / E.Mizuta, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2018. – Vol.65, No.8, Pt.1. – p.1956-1963. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2018.2819990. – Bibliogr.:13.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$