Электронный каталог

Статья

Witulski, A.F.
Single-Event Burnout Mechanisms in SiC Power MOSFETs / A.F.Witulski, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2018. – Vol.65, No.8, Pt.1. – p.1951-1955. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2018.2849405. – Bibliogr.:18.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$