Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Kato, T. - The Impact of Multiple-Cell Charge Generation on Multiple-Cell Upset in a 20-nm Bulk SRAM
Kato, T. - The Impact of Multiple-Cell Charge Generation on Multiple-Cell Upset in a 20-nm Bulk SRAM
Статья
Автор: Kato, T.
IEEE Transactions on Nuclear Science: The Impact of Multiple-Cell Charge Generation on Multiple-Cell Upset in a 20-nm Bulk SRAM
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Kato, T.
IEEE Transactions on Nuclear Science: The Impact of Multiple-Cell Charge Generation on Multiple-Cell Upset in a 20-nm Bulk SRAM
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Kato, T.
The Impact of Multiple-Cell Charge Generation on Multiple-Cell Upset in a 20-nm Bulk SRAM / T.Kato, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2018. – Vol.65, No.8, Pt.1. – p.1900-1907. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2018.2830781. – Bibliogr.:23.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Kato, T.
The Impact of Multiple-Cell Charge Generation on Multiple-Cell Upset in a 20-nm Bulk SRAM / T.Kato, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2018. – Vol.65, No.8, Pt.1. – p.1900-1907. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2018.2830781. – Bibliogr.:23.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
IEEE Transactions on Nuclear Science Vol.65, No.8, Pt.1
2018 г.
ISBN отсутствует
Библиотека : ЦБ.ЧЗ
IEEE Transactions on Nuclear Science Vol.65, No.8, Pt.1
2018 г.
ISBN отсутствует
Библиотека : ЦБ.ЧЗ