Электронный каталог

Статья

Clemente, J.A.
SEU Characterization of Three Successive Generations of COTS SRAMs at Ultralow Bias Voltage to 14.2-MeV Neutrons / J.A.Clemente, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2018. – Vol.65, No.8, Pt.1. – p.1858-1865. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2018.2800905. – Bibliogr.:29.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$