Электронный каталог

Статья

Lunardi, C.
On the Efficacy of ECC and the Benefits of FinFET Transistor Layout for GPU Reliability / C.Lunardi, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2018. – Vol.65, No.8, Pt.1. – p.1843-1850. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2018.2823786. – Bibliogr.:44.



Спец.(статьи,препринты) = Ц 841 д - Визуальные средства общения человека с ЭВМ. Машинная графика