Электронный каталог

Статья

Chen, R.M.
Analysis of Temporal Masking Effects on Master- and Slave-Type Flip-Flop SEUs and Related Applications / R.M.Chen, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2018. – Vol.65, No.8, Pt.1. – p.1823-1829. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2018.2823385. – Bibliogr.:19.



Спец.(статьи,препринты) = С 349 в - Защита от излучений. Защитные приспособления и материалы. Дозиметрическая характеристика излучателей