Электронный каталог

Статья

De Oliveira, A.B.
Lockstep Dual-Core ARM A9: Implementation and Resilience Analysis Under Heavy Ion-Induced Soft Errors / A.B.De Oliveira, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2018. – Vol.65, No.8, Pt.1. – p.1783-1790. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2018.2852606. – Bibliogr.:25.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$