Электронный каталог

Статья

Manabe, S.
Negative and Positive Muon-Induced Single Event Upsets in 65-nm UTBB SOI SRAMs / S.Manabe, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2018. – Vol.65, No.8, Pt.1. – p.1742-1749. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2018.2839704. – Bibliogr.:29.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Спец.(статьи,препринты) = С 346.3 - Мю-мезоны