Электронный каталог

Статья

Bosser, A.L.
Single-Event Effects in the Peripheral Circuitry of a Commercial Ferroelectric Random Access Memory / A.L.Bosser, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2018. – Vol.65, No.8, Pt.1. – p.1708-1714. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2018.2797543. – Bibliogr.:14.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$