Электронный каталог

Статья

Le Roch, A.
Radiation-Induced Defects in 8T-CMOS Global Shutter Image Sensor for Space Applications / A.Le Roch, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2018. – Vol.65, No.8, Pt.1. – p.1645-1653. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2018.2820385. – Bibliogr.:27.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$