Электронный каталог

Статья

Yang, L.
Total Ionizing Dose Response and Annealing Behavior of Bulk nFinFETs with ON-State Bias Irradiation / L.Yang, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2018. – Vol.65, No.8, Pt.1. – p.1503-1510. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2018.2827675. – Bibliogr.:23.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$