Электронный каталог

Статья

Borghello, G.
Dose-Rate Sensitivity of 65-nm MOSFETs Exposed to Ultrahigh Doses / G.Borghello, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2018. – Vol.65, No.8, Pt.1. – p.1482-1487. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2018.2828142. – Bibliogr.:26.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$