Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Fleetwood, D. M. - Evolution of Total Ionizing Dose Effects in MOS Devices with Moore’s Law Scaling
Fleetwood, D. M. - Evolution of Total Ionizing Dose Effects in MOS Devices with Moore’s Law Scaling
Статья
Автор: Fleetwood, D. M.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Evolution of Total Ionizing Dose Effects in MOS Devices with Moore’s Law Scaling
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Fleetwood, D. M.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Evolution of Total Ionizing Dose Effects in MOS Devices with Moore’s Law Scaling
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Fleetwood, D.M.
Evolution of Total Ionizing Dose Effects in MOS Devices with Moore’s Law Scaling / D.M.Fleetwood // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2018. – Vol.65, No.8, Pt.1. – p.1465-1481. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2017.2786140. – Bibliogr.:163.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Fleetwood, D.M.
Evolution of Total Ionizing Dose Effects in MOS Devices with Moore’s Law Scaling / D.M.Fleetwood // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2018. – Vol.65, No.8, Pt.1. – p.1465-1481. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2017.2786140. – Bibliogr.:163.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
IEEE Transactions on Nuclear Science Vol.65, No.8, Pt.1
2018 г.
ISBN отсутствует
Библиотека : ЦБ.ЧЗ
IEEE Transactions on Nuclear Science Vol.65, No.8, Pt.1
2018 г.
ISBN отсутствует
Библиотека : ЦБ.ЧЗ