Электронный каталог

Статья

Liu, Q.
Investigation of the Thickness Non-Uniformity of the Very Thin Silicon-Strip Detectors / Q.Liu, [et al.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research A. – 2018. – Vol.897. – p.100-105. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2018.04.041. – Bibliogr.:23.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.1м - Полупроводниковые детекторы