Электронный каталог

Статья

Sajid, M.
Analysis of Total Ionizing Dose Effects for Highly Scaled CMOS Devices in Low Earth Orbit / M.Sajid, [et al.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B. – 2018. – Vol.428. – p.30-37. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2018.05.014. – Bibliogr.:15.



Спец.(статьи,препринты) = С 349 а - Дозиметрия различных видов излучения. Абсолютные измерения потоков