Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Uemura, T. - Technology Scaling Trend of Soft Error Rate in Flip-Flops in 1 x nm Bulk FinFET Technology
Uemura, T. - Technology Scaling Trend of Soft Error Rate in Flip-Flops in 1 x nm Bulk FinFET Technology
Статья
Автор: Uemura, T.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Technology Scaling Trend of Soft Error Rate in Flip-Flops in 1 x nm Bulk FinFET Technology
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Uemura, T.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Technology Scaling Trend of Soft Error Rate in Flip-Flops in 1 x nm Bulk FinFET Technology
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Uemura, T.
Technology Scaling Trend of Soft Error Rate in Flip-Flops in 1 x nm Bulk FinFET Technology / T.Uemura, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2018. – Vol.65, No.6. – p.1255-1263. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2018.2833875. – Bibliogr.:28.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Uemura, T.
Technology Scaling Trend of Soft Error Rate in Flip-Flops in 1 x nm Bulk FinFET Technology / T.Uemura, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2018. – Vol.65, No.6. – p.1255-1263. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2018.2833875. – Bibliogr.:28.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Привязано к:
Доступно
1 из 1