Электронный каталог

Статья

Silva, T.F.
Elemental Mapping of Large Samples by External Ion Beam Analysis with Sub-Millimeter Resolution and Its Applications / T.F.Silva, [et al.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B. – 2018. – Vol.422. – p.68-77. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2018.03.006. – Bibliogr.:38.



Спец.(статьи,препринты) = С 44 г - Физико-химические методы анализа элементов. Анализ с помощью ядерных методов