Электронный каталог

Статья

Ieshkin, A.E.
The Quantitative Analysis of Silicon Carbide Surface Smoothing by Ar and Xe Cluster Ions / A.E.Ieshkin, [et al.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B. – 2018. – Vol.421. – p.27-31. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2018.02.019. – Bibliogr.:17.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$