Электронный каталог

Статья

Кириенко, Д.А.
Нейросетевой метод прогнозирования образования дефектов на поверхности тонких пленок ITO при механических нагрузках / Д.А.Кириенко, О.Я.Березина // Журнал технической физики. Письма. – 2018. – Т.44, №9. – с.81-87. – URL: https://journals.ioffe.ru/articles/viewPDF/46069. – Библиогр.:12.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.4б - Методы приготовления тонких пленок$