Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Kupsc, P. - Microbeam SEE Analysis of MIM Capacitors for GaN Amplifiers
Kupsc, P. - Microbeam SEE Analysis of MIM Capacitors for GaN Amplifiers
Статья
Автор: Kupsc, P.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Microbeam SEE Analysis of MIM Capacitors for GaN Amplifiers
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Kupsc, P.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Microbeam SEE Analysis of MIM Capacitors for GaN Amplifiers
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Kupsc, P.
Microbeam SEE Analysis of MIM Capacitors for GaN Amplifiers / P.Kupsc, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2018. – Vol.65, No.2. – p.732-738. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2018.2791564. – Bibliogr.:19.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Kupsc, P.
Microbeam SEE Analysis of MIM Capacitors for GaN Amplifiers / P.Kupsc, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2018. – Vol.65, No.2. – p.732-738. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2018.2791564. – Bibliogr.:19.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Привязано к:
Доступно
1 из 1