Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Jay, A. - Simulation of Single-Particle Displacement Damage in Silicon - Part III: First Principle Characte...
Jay, A. - Simulation of Single-Particle Displacement Damage in Silicon - Part III: First Principle Characte...
Статья
Автор: Jay, A.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Simulation of Single-Particle Displacement Damage in Silicon - Part III: First Principle Characte...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Jay, A.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Simulation of Single-Particle Displacement Damage in Silicon - Part III: First Principle Characte...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Jay, A.
Simulation of Single-Particle Displacement Damage in Silicon - Part III: First Principle Characterization of Defect Properties / A.Jay, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2018. – Vol.65, No.2. – p.724-731. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2018.2790843. – Bibliogr.:24.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Jay, A.
Simulation of Single-Particle Displacement Damage in Silicon - Part III: First Principle Characterization of Defect Properties / A.Jay, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2018. – Vol.65, No.2. – p.724-731. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2018.2790843. – Bibliogr.:24.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Привязано к:
Доступно
1 из 1