Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Trippe, J. M. - Predicting Muon-Induced SEU Rates for a 28-nm SRAM Using Protons and Heavy Ions to Calibrate the ...
Trippe, J. M. - Predicting Muon-Induced SEU Rates for a 28-nm SRAM Using Protons and Heavy Ions to Calibrate the ...
Статья
Автор: Trippe, J. M.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Predicting Muon-Induced SEU Rates for a 28-nm SRAM Using Protons and Heavy Ions to Calibrate the ...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Trippe, J. M.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Predicting Muon-Induced SEU Rates for a 28-nm SRAM Using Protons and Heavy Ions to Calibrate the ...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Trippe, J.M.
Predicting Muon-Induced SEU Rates for a 28-nm SRAM Using Protons and Heavy Ions to Calibrate the Sensitive Volume Model / J.M.Trippe, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2018. – Vol.65, No.2. – p.712-718. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2017.2786585. – Bibliogr.:16.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Trippe, J.M.
Predicting Muon-Induced SEU Rates for a 28-nm SRAM Using Protons and Heavy Ions to Calibrate the Sensitive Volume Model / J.M.Trippe, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2018. – Vol.65, No.2. – p.712-718. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2017.2786585. – Bibliogr.:16.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Привязано к:
Доступно
1 из 1